如何正確測量開關的接觸電阻

 

如何正確測量開關(guan) 的接觸電阻

　　定義(yi) 為(wei) 觸點兩(liang) 端的電壓與(yu) 流過一對閉合觸點的電流之比。它遵守歐姆定律。Metal 1和Metal 2之間有一個(ge) 接口。來自電流源的電流I流過這個(ge) 接口，可以從(cong) 電流表中讀取。然後可以從(cong) 電壓表中將接口上的電壓降讀取為(wei) U。然後可以計算接觸電阻值Rx。

　　Rx=U/I

　　由於(yu) 接觸電阻隨環境和電流的通過而變化，因此測量條件應接近使用條件。準確的測量必須使用四端測量技術和熱電動勢消除技術。這種間接測量方法可用於(yu) 測量接觸電阻或回路電阻。它需要三個(ge) 測試點、三個(ge) 步驟和三個(ge) 公式。該方法已被證明是正確的，也可用於(yu) 校準回路電阻標準。

　　接觸電阻測試的典型方法

　　四線 (Kelvin) 直流電壓降是使用微歐表進行接觸電阻測試的典型方法，它通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準確的測量。

　　接觸電阻測試使用兩(liang) 個(ge) 電流連接進行注入和兩(liang) 個(ge) 電位引線進行電壓降測量；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，並且始終位於(yu) 由連接的電流引線形成的電路內(nei) 。

　　基於(yu) 對電壓降的測量，微處理器控製的微歐表計算接觸電阻，同時消除連接中熱 EMF 影響可能產(chan) 生的誤差（熱 EMF 是當兩(liang) 種不同金屬接觸時產(chan) 生的小熱電偶電壓）連接在一起）它們(men) 將被添加到測量的總電壓降中，如果不通過不同的方法（極性反轉和平均，熱電動勢幅度的直接測量等）從(cong) 測量中減去它們(men) ，則會(hui) 將誤差引入觸點電阻測試。

　　如果在小電流下測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數，建議在更高電流下重新測試觸點。為(wei) 什麽(me) 我們(men) 會(hui) 受益於(yu) 使用更高的電流？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化，在這些條件下，較低的電流可能會(hui) 產(chan) 生錯誤（較高）的讀數。

　　在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要，以便能夠與(yu) 之前和未來的結果進行比較以進行趨勢分析。因此，在進行定期測量時，接觸電阻測試必須在相同的位置，使用相同的測試引線（始終使用製造商的校準電纜）和相同的條件下進行，以便能夠知道何時連接、連接、焊接或設備將變得不安全。